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ＦＩＢ試料調整用試料台 ＳＧ－００３Ｎｉ シリーズ一覧
- カテゴリー
- 研究・開発機関用機器> その他（９コード）> その他（９コード）> その他（９コード）> ＦＩＢ試料調整用試料台 ＳＧ－００３Ｎｉ シリーズ一覧
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ＦＩＢ試料調整用試料台 ＳＧ－００３Ｎｉ
分 類
- 2.計測・測定・検査>
- I.顕微鏡・光学関連品
特 徴
●TEMでの観察・分析用に、FIB加工機で試料を薄片化する際に使用される試料台です。
●薄くなっている試料固定部が3ヵ所あります。
●高純度素材を使用しています。
●試料固定部認識用ピンホール・表裏認識用円形パターンがあります。
仕 様
●材質：ニッケル
●★厚み（μm）：30
●入数：1箱（30枚入）
●ベース部直径：約3mm
●※寸法は保証値ではございません。製品毎にばらつきがございますのでご了承下さい。
- 品 番
- 4-5168-02
- 型 番
- SG-003Ni
- 納 期
- 約17営業日後に発送
- 送 料
- 1100円
定価 48,000円
ケミトス販売価格
ＦＩＢ試料調整用試料台 ＳＧ－００３Ｃｕ
分 類
- 2.計測・測定・検査>
- I.顕微鏡・光学関連品
特 徴
●TEMでの観察・分析用に、FIB加工機で試料を薄片化する際に使用される試料台です。
●薄くなっている試料固定部が3ヵ所あります。
●高純度素材を使用しています。
●試料固定部認識用ピンホール・表裏認識用円形パターンがあります。
仕 様
●材質：銅
●★厚み（μm）：30
●入数：1箱（30枚入）
●ベース部直径：約3mm
●※寸法は保証値ではございません。製品毎にばらつきがございますのでご了承下さい。
- 品 番
- 4-5168-03
- 型 番
- SG-003Cu
- 納 期
- 約17営業日後に発送
- 送 料
- 1100円
定価 22,800円
ケミトス販売価格
ＦＩＢ試料調整用試料台 ＳＧ－００３Ｔｉ
分 類
- 2.計測・測定・検査>
- I.顕微鏡・光学関連品
特 徴
●TEMでの観察・分析用に、FIB加工機で試料を薄片化する際に使用される試料台です。
●薄くなっている試料固定部が3ヵ所あります。
●高純度素材を使用しています。
●試料固定部認識用ピンホール・表裏認識用円形パターンがあります。
仕 様
●材質：チタン
●★厚み（μm）：30
●入数：1箱（20枚入）
●ベース部直径：約3mm
●※寸法は保証値ではございません。製品毎にばらつきがございますのでご了承下さい。
- 品 番
- 4-5168-04
- 型 番
- SG-003Ti
- 納 期
- 約17営業日後に発送
- 送 料
- 1100円
定価 51,200円
ケミトス販売価格
ＦＩＢ試料調整用試料台 ＳＧ－００２Ｍｏ
分 類
- 2.計測・測定・検査>
- I.顕微鏡・光学関連品
特 徴
●TEMでの観察・分析用に、FIB加工機で試料を薄片化する際に使用される試料台です。
●薄くなっている試料固定部が3ヵ所あります。
●高純度素材を使用しています。
●試料固定部認識用ピンホール・表裏認識用円形パターンがあります。
仕 様
●材質：モリブデン
●入数：1箱（25枚入）
●ベース部直径：約3mm
●厚み：試料固定部先端／約5μm・試料固定部／約10μm・ベース部／約30μm
●※寸法は保証値ではございません。製品毎にばらつきがございますのでご了承下さい。
- 品 番
- 4-5168-01
- 型 番
- SG-002Mo
- 納 期
- 約17営業日後に発送
- 送 料
- 1100円
定価 50,000円
ケミトス販売価格
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